運用・用法的なご相談
・製品の検査方法
・内部観察の方法
・CTデータを使ったリバースエンジニアリング
・CTデータと融合する計測メトロジー


X線源・検出器・ステージ構成を自由に組み合わせ、お客様の検査対象や用途、観察条件に応じた最適なフルカスタム装置をご提案します。
対象物の材質・サイズ・検査精度・設置環境など、さまざまな条件に合わせて装置構成を最適化することで、既存装置では難しい大型・長尺・特殊形状ワークの検査や、専用装置・インライン設備への対応も可能です。
お客様ごとの課題や運用環境に合わせ、最適な検査環境を実現します。

幅広いサイズに対応
小型部品から大型・長尺・重量物まで幅広く対応可能

最適構成設計が可能
X線源・検出器・ステージ構成を最適に組み合わせた構成設計が可能

用途別の装置開発に対応
専用装置やインライン設備など用途に応じた開発に対応

お客様の製品や検体に合わせた様々な線源をご選択またはご提案させていただきます。
出力やタイプの違う、線源を2本以上搭載する事も可能です。
| X線出力 (タイプ) |
~160kV | ~225kV (Mezo) |
~230kV (Micro) |
~300kV (Micro) |
~450kV (Mezo) |
~450kV (Mini) |
950kV以上 (LINAC) |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 樹脂製品 | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ |
| アルミ製品 | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ | |
| 鉄製品 | △ | △ | ○ | ○ | ○ |
お客様のご希望観察条件に合わせご提案させていただきます。
FPD、LDAの両者を搭載する事もご選択可能です。
FDP(フラットパネル型検出器)
一度に大きく撮影が出来る為、短時間撮影可能
X線焦点が小さい為、細分化画像が撮影可能
■フラットパネル 高エネルギータイプ
・8インチ~16.8インチのサイズに対応
・16ビット
・1K~3K
■フラットパネル 低エネルギータイプ
・5~6インチ程度
・14ビット
・1K~3K

LDA(ラインセンサー型検出器)
X線散乱線によるノイズの少ない画像が得られる
超高エネルギーでの撮影が可能
■直線型 ラインディテクタ
・225mm~1,100mm
・16ビット
・ピクセル:0.2mm/0.4mm
■曲線型 ラインディテクタ
・880mm
・20ビット
・ピクセル:1mm

小型製品(φ100mm)~超大型製品(φ3,400mm以上)に対応可能です。



制御用・再構成用PCのカスタム
PCのスペック(CPU、GPU、メモリー、モニターなど)のカスタム
・Windows 11 Pro (最大 128コア), 日本語
・videocard:NVIDIA® RTX™
・memory:16GB~
・harddrive:1TB SSD~
・Second drive~
ソフトウェア
解析用のソフトウェア(Volumegraffics VG STUDIOなど)
貴社ご要求に応じたX線源、ステージ(回転テーブル)の可動、ストローク、検出器配置を設計し、
適切な遮蔽ボックスに格納し、納入させて頂きます。

ベース装置

TXS Portable
ポータブルマイクロフォーカスX線CTシステム
低出力X線源90kV/130kV(密封管)を搭載。
小型フラットパネル(低出力用高精細)と組み合わせることで、小型製品の内部構造をクリアな微細画質で観察が可能。薄板ケース部品、電子部品、小型樹脂製品などの非破壊検査に対応。
ベース装置

TXS Miniシリーズ
高出力ミニフォーカスX線CTシステム
超高出力X線源450kV/600kVを搭載。
高精細ラインセンサーと大型フラットパネルを組み合わせることにより、肉厚や難X線透過材料への適応力を増加させたクリアな画質で内部観察が可能。
・製品の検査方法
・内部観察の方法
・CTデータを使ったリバースエンジニアリング
・CTデータと融合する計測メトロジー
・自動化CT/透過X線検査装置
・大型製品のCTスキャン
・3Dスキャナーを含めた他計測との融合システム